　　晶體使用常見問題系列二之無信號輸出情況的分析及解決方案.
　　對于晶振這種頻控電子元器件來說,非常容易就會出現故障,上一期文章中我們提出的三個問題只是其中的一個方面,除此之外,石英晶振無信號輸出也是常見問題;那么這種現象是什么造成的呢?有沒有什么好的解決辦法呢?
　　第一步,遇到這樣的情況請使用示波器或頻率計數器測量晶體的兩個端子輸出的信號.如果沒有信號輸出,請按照步驟1-1至步驟1-4執行檢查.如果晶體的外部端子(Xout)有信號輸出,而晶體內部的端子(Xin)無信號輸出,請按照步驟1-5至步驟1-6檢查晶體.
　　第二步請卸載晶體,并測試其頻率和負載電容,以使用專業的測試機查看它們是否振動并符合您的規格.您也可以將其發送給您的供應商,讓他們為您測試.
　　第三步,如果出現以下任何一種情況,晶體不振動,其負載電容不符合您的規格,或者電流頻率與目標頻率之間存在巨大差距,請將該晶體發送給您的供應商進行質量分析.如果頻率和負載電容符合您的規格,就需要進行等效電路測試,電路圖如下.

　　其中,Cd和Cg是外部負載電容,已內置在芯片組中.(請參閱芯片組的規格)Rf是200KΩ?1MΩ的反饋電阻.它通常內置在芯片組中.Rd是具有470Ω?1KΩ的極限電阻.該電阻對于普通電路不是必需的,而僅對于具有高電源的電路是必需的.穩定的振蕩電路需要負電阻,并且其值至少應為貼片晶振電阻的五倍.可以寫成|-R|>5Rr.例如,要獲得穩定的振蕩電路,當晶體電阻值為40Ω時,IC的負電阻值必須低于200Ω.
　　“負阻力”是評估振蕩電路質量的準繩.在某些情況下,例如老化,熱變化,電壓變化等,如果”Q”的值過低,電路可能不會振蕩.因此,按照以下說明測量負電阻(-R)非常重要:首先將電阻(R)與晶體串聯連接,從起點到電阻調整R的值振蕩的停止點.并在振蕩期間測量R的值.這樣就可以獲得負電阻值||R||.=R+Rr,Rr=晶體電阻.但是需要特別注意的是連接電路的雜散電容可能會影響測量值.
　　如果晶體的參數正常,但在振蕩電路中無法穩定工作,則我們必須找出IC的電阻值是否太低而無法驅動電路.如果是這樣,我們可以通過三種方法來改善這種情況:一是降低外部電容(Cd和Cg)的值,并采用具有較低負載電容(CL)的其他晶體.二是采用低電阻(Rr)的晶體.三是使用Cd和Cg值不相等的設計.我們可以增加Cd(Xout)的負載電容,并減小Cg(Xin)的負載電容,以提高來自Xin的波形幅度輸出,該信號將在其后端電路中使用.
　　當然,當從晶振Xout輸出信號但沒有從Xin輸出信號時,則表示后電極后端電路的功耗非常大.我們可以在電路的輸出與其后電極之間添加一個緩沖器,以驅動后端電路.
晶體使用常見問題系列二之無信號輸出情況的分析及解決方案.

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